直讀光譜儀的分辨率受到入縫寬度、出縫寬度、光柵刻線數(shù)、光譜儀的焦距、光線入射角、光譜級(jí)次等因素的綜合影響，其中全譜和多道直讀光譜儀的主要區(qū)別在于出入縫寬度、光柵刻線數(shù)和焦距的不同。
大型多道直讀光譜儀采用PMT作為檢測(cè)器，必須配合出縫來(lái)選擇光譜，受制于光譜強(qiáng)度、出縫的加工和光學(xué)調(diào)試難度等因素的影響，出縫寬度通常在50μm左右，影響了多道光譜儀的分辨能力。
全譜型直讀光譜儀雖然焦距比較小，但其采用了更窄的入縫和更高刻線數(shù)的光柵，因此其光學(xué)分辨率與大型多道光譜儀相當(dāng)。全譜型直讀光譜儀采用CCD作為檢測(cè)器，其像素寬度僅為10μm左右，大大提高了光譜的分辨能力。
